圖4和圖5是電子探針測(cè)量的待測(cè)的2個(gè)浮法玻璃樣品的滲錫深度曲線，圖中的“+”代表實(shí)驗(yàn)點(diǎn)，曲線為理論計(jì)算曲線，根據(jù)此理論曲線即可得到樣品的滲錫量，即表1中最后1列數(shù)據(jù)，這測(cè)量值有一范圍，原因是理論曲線和實(shí)驗(yàn)曲線的擬合時(shí)，有一調(diào)整范圍。表1的第1列中L和H分別代表低溫和高溫?zé)崽幚順悠罚坏?列為相應(yīng)樣品的彩虹參數(shù)測(cè)量值；第3列為低溫和高溫標(biāo)準(zhǔn)曲線得到的滲錫量；第4列為3次滲錫量測(cè)量值的平均及其標(biāo)準(zhǔn)偏差，括號(hào)中代表相當(dāng)標(biāo)準(zhǔn)偏差。
從表1可以看出，滲錫量的光學(xué)測(cè)量值與電子探針測(cè)量值是符合的，但稍稍偏高，原因是浮法玻璃的滲錫深度曲線不是平滑遞降的理論曲線，而是帶有衛(wèi)星峰的曲線[6] ，平滑遞降的理論曲線下的面積總是小于實(shí)驗(yàn)曲線下的面積，而理論曲線下的面積就是滲錫量的電子探針測(cè)量值[1,2,5] ，即滲錫量的電子探針測(cè)量值比真實(shí)值低。光學(xué)法就沒有這問題，玻璃中有多少錫離子，彩虹參數(shù)中就包含多少二價(jià)錫離子的貢獻(xiàn)，這就是光學(xué)法測(cè)量值稍高于電子探針法測(cè)量值的原因。
四 結(jié)論
本文實(shí)驗(yàn)證實(shí)，浮法玻璃的彩虹參數(shù)和滲錫量之間存在直線關(guān)系；實(shí)驗(yàn)也證實(shí)，利用這直線關(guān)系和彩虹參數(shù)的測(cè)量值就可以得到浮法玻璃的滲錫量。
本文建立浮法玻璃滲錫量的光學(xué)測(cè)量方法：
測(cè)量范圍：
（1） 770℃高溫處理為（0.05～0.3）g/㎡；
（2） 750℃低溫處理為（0.3～0.6）g/㎡。
測(cè)量精度：相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差不大于?2.2%。
1. 參考文獻(xiàn)
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